二手 PARK SYSTEMS XE-100 #293823195 待售

ID: 293823195
Atomic Force Microscope (AFM).
PARK SYSTEMS XE-100是一种尖端扫描电子显微镜(SEM),设计用于高分辨率成像和分析纳米级的各种材料。由原子力显微镜(AFM)和SEM解决方桉的领先提供商PARK SYSTEMS开发,XE-100集成了先进的技术,在成像、分析和表征任务方面提供卓越的性能。PARK SYSTEMS XE-100的核心是一个场发射电子源,它产生一个聚焦电子束,用于超高分辨率成像样品。SEM利用一系列电磁透镜和探测器来操纵和捕获电子束,使用户能够以无与伦比的细节检查样品的表面结构和特性。XE-100的突出特点之一是其高分辨率成像能力,使研究人员和科学家能够以亚纳米分辨率可视化样品表面。这一级别的细节对于研究纳米结构、纳米粒子、薄膜和其他需要精确成像才能进行全面分析的材料至关重要。除了成像之外,PARK SYSTEMS XE-100还提供先进的分析能力,包括能量色散X射线光谱(EDS)和电子反向散射衍射(EBSD)。通过检测电子束与样品相互作用时发出的特征X射线,EDS能够对样品进行元素分析,提供有关材料组成的宝贵信息。同样,EBSD是一种强大的技术,使用户可以检查材料中的晶体学取向和晶粒结构,从而能够精确描述样品中的晶界和缺陷。这些分析技术与高分辨率成像相结合,使XE-100成为材料科学研究、半导体分析和其他需要详细样品表征的领域的通用工具。PARK SYSTEMS XE-100配备了一个直观的用户界面,简化了操作和数据采集,允许用户快速设置成像和分析实验。软件界面支持实时控制成像参数,例如加速电压、光束电流和扫描速度,从而确保针对各种样品类型和分析要求的优化性能。此外,XE-100还配备了具有精确定位功能的电动舞台,使用户能够轻松扫描大面积样品或执行高精度测量。该阶段可以通过软件界面进行控制,提供自动映射和成像功能,以高效收集和分析工作流程。PARK SYSTEMS XE-100还具有灵活性和可扩展性,还提供了附加附件和模块选项,以进一步增强其功能。用户可以集成额外的探测器、阶段和分析工具,为特定的研究需求定制SEM,使其成为材料科学、生命科学和纳米技术领域广泛应用的通用平台。总体而言,XE-100扫描电子显微镜结合了先进的技术、高分辨率成像和分析功能,具有用户友好和通用的软件包。PARK SYSTEMS XE-100具有在纳米级可视化和分析样品的能力,是研究人员、科学家和寻求探索和了解原子和分子级材料特性的行业专业人士的宝贵工具。
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