二手 PARK SYSTEMS XE-70 #9225309 待售
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已售出
ID: 9225309
Atomic Force Microscope (AFM)
XY Scanner:
Single-module flexure with closed-loop control
UV LED Head has been replaced
Computer with (2) monitors
Controller
Light source
Scan range:
100 μm x 100 μm
50 μm x 50 μm
10 μm x 10 μm
Manual stage:
XY Travel range: 13 x 13 mm
Z Travel range: 29.5 mm
Focus travel range: 70 mm
Z Scanner range:
Guided high-force Z scanner
Scan range: 12 µm, 15 µm
Sample mount:
Sample size: Up to 100 mm
Thickness: Up to 20 mm
Direct on-axis vision of sample surface and cantilever
Coupled with 10x objective lens
Field-of-view: 480 x 360 µm
CCD: Mpixel
Electronics:
DSP: 600 MHz with 4800 MIPS
Maximum 16 data images
Maximum data size: 4096 x 4096 Pixels
Signal inputs: 20 Channels of 16 bit ADC at 500 kHz samplings
Signal outputs: 21 Channels of 16 bit DAC at 500 kHz settling
Synchronous signal:
End-of-image
End-of-line
End-of-pixel TTL signals
Includes:
ACOUSTIC Enclosure
MINUS K TECHNOLOGIES Platform
Power: 120 W
CE Marked.
PARK SYSTEMS XE-70是一种先进的扫描电子显微镜（SEM），旨在满足纳米技术和材料科学等不同领域研究人员的需求。XE-70提供独特的动态成像功能,使其成为高分辨率成像、表面表征和三维分析的理想选择。PARK SYSTEMS XE-70配备了一个大型高灵敏度1200万像素数码相机和一个宽带能量探测器，可捕获分辨率高达1纳米的图像。其高压电子源能够产生从0.5到100keV的光束，并提供广泛的分析技术，包括电子反向散射衍射、二次电子成像和X射线微分析。XE-70还提供了广泛的样本阶段，以容纳许多不同大小和形状的标本。PARK SYSTEMS XE-70拥有许多增强功能，使其成为进行精密研究的理想选择。其环境控制系统在操作过程中保持稳定的真空水平，最大限度地减少了环境振动的干扰，非常适合高分辨率成像。XE-70还具有一个用户友好的数字界面，使它易于操作显微镜和操作其设置。此外，其集成的图像处理软件使处理数据和创建高质量图像变得容易。总体而言，PARK SYSTEMS XE-70是一种功能强大且用途广泛的扫描电子显微镜，提供无与伦比的性能和灵活性。它具有捕捉高分辨率图像的能力和广泛的分析能力，是不同领域研究人员的理想选择。
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