二手 PARK SYSTEMS XE-HDM #9394707 待售

PARK SYSTEMS XE-HDM是由PARK SYSTEMS设计的高性能扫描电子显微镜（SEM），用于进行高分辨率材料科学和计量研究。XE-HDM SEM利用最先进的场发射枪（FEG）电子源结合创新的电子光学设计，达到1.2 nm的高分辨率。PARK SYSTEMS XE-HDM还配备了二次电子（SE）、反向散射电子（BSE）、场发射扫描（FESEM）探测器。XE-HDM为用户提供了一个大的动态范围的优势，允许从纳米尺度到更大的样本尺度的观测。PARK SYSTEMS XE-HDM利用高性能的FEG电子源，产生高亮度的电子束，具有出色的能量稳定性，从而产生高分辨率的图像。XE-HDM能够实现低至1.2 nm的分辨率,工作距离可达0.7 mm。PARK SYSTEMS XE-HDM还通过其能量色散X射线光谱（EDS）和波长色散X射线光谱（WDX）系统提供两种分析能力。EDS和WDX系统能够进行元素或成分分析,空间分辨率为0.6 µm。XE-HDM配备了两个用于地形成像的二次电子探测器，一个低真空BSE探测器，一个无窗柱内探测器和一个小角度散射（SAS）探测器。BSE检测器非常适合对金属和复合样品进行成像，以及绘制局部化学性质变化图。PARK SYSTEMS XE-HDM还配备了现场发射扫描（FESEM）探测器，提供了极高分辨率的成像能力。FESEM能够以低至0.8 nm的分辨率成像。XE-HDM系统除了具有成像功能外,还提供了许多功能,使其成为计量研究的强大工具。PARK SYSTEMS XE-HDM配备了独一无二的自动化聚焦特征查找器（FFF）系统，可以定位样品边缘，并以高精度自动聚焦电子束。XE-HDM提供各种自动化测量,例如厚度和粗糙度测量以及面积测量。PARK SYSTEMS XE-HDM还提供间隙检测和步长测量选项,用于分辨率高达1 nm的自动测量。XE-HDM是一种能够进行扫描的电子显微镜，适用于材料科学和计量研究。PARK SYSTEMS XE-HDM凭借其创新的电子光学设计和高性能的FEG电子源，提供出色的分辨率和广泛的分析能力。XE-HDM的自动化焦点查找器和各种自动化测量为用户提供了一个用于计量研究的强大工具。