二手 PHILIPS CM10 #293645024 待售
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ID: 293645024
Transmission Electron Microscope (TEM)
Chiller
Power
(2) Vacuum pumps
CTI 8200 Compressor
(8) Grinding equipment
Microtom
QUORUM / POLARON SC7640 Sputter coater
(2) BRINKMANN Retsch RMO mortar grinders.
飞利浦CM10扫描电子显微镜（SEM）是一种高度先进的工具，用于可视化和测量各种材料的表面特征，分辨率高达1纳米，是所有SEM中最高的。CM10是一种先进的野外发射枪（FEG）SEM，配备了列内EDX探测器、高压气体系统、低真空探测器、低能反向散射探测器和多通道成像探测器。它拥有一系列非凡的功能,包括广阔的视野、卓越的分辨率和先进的图像信号处理功能。飞利浦CM 10的FEG赋予它出色的对比度和高分辨率。这类电子枪利用强电场从发射器中提取电子，从而使电子束具有更大的稳定性和控制力。其高对比度和分辨率使得它适用于分析和测量表面到纳米尺度，以及观察表面形态。能量色散X射线检测器使CM10能够在成像过程中分析样品的元素组成，不需额外处理即可识别表面组成。该检测器能够收集高灵敏度和高分辨率的X射线光谱，并针对最小的样品制备和简单的数据采集进行了优化。飞利浦CM10视野广阔，高达12毫米，适合成像大型样品，如集成电路和晶圆。对于纳米尺度特征的最佳分辨率，可以进一步调整这种宽视野。CM10还拥有高压气体系统、低真空探测器和低能反向散射探测器。高压气体系统允许显微镜内的样品操作，如气体辅助运动或样品注入。低真空探测器用于检测从特定纳米范围反射的电子，允许对深层结构和其他特征进行成像，否则很难检测到。低能反向散射探测器检测弱背景辐射，可以帮助识别纳米级的特征。飞利浦CM10还配备了多通道成像探测器。它用于同时以更有效的方式检测多个EM字段,从而能够获取更详细的图像。总体而言,CM10是一个高级、高分辨率的SEM,具有广阔的视野、强大的检测器和列内EDX。PHILIPS CM10具有令人印象深刻的一系列功能,非常适合对各种材料的表面特征进行成像和测量,甚至可用于测量最小的纳米级特征。
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