二手 PHILIPS / FEI Altura 830 #9329326 待售

PHILIPS/FEI Altura 830是专为先进冶金和纳米级研究而设计的高性能扫描电子显微镜（SEM）。此单元是世界上第一个真正的双光束SEM,允许在材料表征方面实现更高的功能和精度。SEM配备高分辨率场发射枪（FEG）以增强成像能力，在1 kV加速电压下图像分辨率小于40 nm以获得最佳精度表征。Altura真正的双束能力允许多种成像技术，包括电子束（EBSD）、深层表面成像（DSI）和化学映射。在EBSD模式下，用户可以快速准确地对各种材料的晶格进行成像，有助于识别不同的相位以及确定微观结构的优选方向。Altura的化学映射模式分析曲面的元素组成以评估不同材料之间的界面，这是用于复合材料、陶瓷和多层MEMS中的详细分析的特征。通过使用DSI，Altura提供了横截面成像研究薄膜沉积和低k介电结构。FEI Altura 830还配备了最新的EDS探测器技术，能够在不到一分钟的时间内提供元素成分图。探测器技术与SEM集成，为用户提供实时分析。其微通道板（MCP）设计和集成的数字偏移校正软件提供了卓越的性能，即使在纳米尺度上进行各种分析。该探测器减少了负载和噪声的影响，导致低检测极限和更高的精度在跟踪和次要元素分析。最后，PHILIPS Altura 830提供了丰富的编辑功能，使用户可以改进图像，轻松调节焦点和对比度，去除噪音，组合帧，调节亮度和色调。该信息显示在显示器上,因此用户可以轻松地将图像修改为所需的规格。综上所述，Altura 830是专门为复杂冶金和纳米级研究而设计的扫描电子显微镜。其先进的功能，如真正的双光束能力、化学映射模式和EDS探测器技术，为用户提供了前所未有的研究和分析精度和准确性。