二手 PHILIPS / FEI Altura 855 #9329323 待售
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ID: 9329323
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
Sample holder, 6"
Piece holder load lock entry, 8"
Electron source: Schottky FEG
Beam current: 22 nA
Ion column: Sidewinder
Imaging resolution: 3 nm at 1 kV
Ion beam resolution: 5-7 nm
TLD UHR, SRH, and BSE Detectors for SEM
CDEM Detector for ion
(2) Gas chemistry
FEI Navigator-KLA / TENCOR
Chiller
Transformer
Stages:
X, Y-Axis: 205 x 205 mm
45 mm ZRT
Rotation: 360°
-5° to 65° ZRT
5-Axis stage motor
Turbo pump with XDS 10
Operating system: Windows.
PHILIPS/FEI Altura 855是一种扫描电子显微镜(SEM),旨在为广泛的科学应用提供成像解决方桉。它是一种用于表面成像和分析的高性能、超高分辨率工具。它非常可靠、节能、易于维护。该系统围绕一个最先进的电子柱进行设计,该电子柱使用高端球面像差透镜(SAL)来产生极高分辨率的图像。这使得研究人员能够精确地成像和分析甚至极小的结构。SEM还包括集成的肖特基场发射电子枪,以快速的图像采集速率提供稳定可靠的操作。FEI Altura 855是一个多功能系统,能够进行多种不同的分析。可用于分析多种表面,包括金属、陶瓷、复合材料和半导体。也可用于提供微观结构的详细分析,如晶粒尺寸、结构、组成等。高分辨率成像能力使得它非常适合生物应用,如DNA和蛋白质的纳米级成像。此外,该系统设计为在样品制备方面高度通用,使研究人员能够检查从液体到固体的各种样品。PHILIPS Altura 855配有一系列附件,可实现样品处理和成像的自动化和方便。这包括一个集成的自动级,可以加载一系列样本,然后远程控制和监控。它还包括一个自动对焦功能,这是为了维持图像分辨率甚至在大的景深。Altura 855为广泛的科学应用提供了可靠、节能和高性能的成像解决方桉。855以其高分辨率的成像能力、集成的肖特基枪以及一系列的配件,是研究人员寻找高质量、准确成像结果的理想工具。
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