二手 PHILIPS / FEI CM #9255393 待售

PHILIPS/FEI CM是一种扫描电子显微镜（SEM），用于成像和分析纳米尺度的材料。由于其高分辨率和灵敏的检测能力，可用于材料科学和半导体分析等多种应用。FEI CM由几个元件组成，包括电子枪、样品级、真空室和检测器。电子枪发射电子束,然后集中在样品上.样品放置在由支撑样品的平台、电动舞台和样品支架组成的样品阶段。然后将样品级连接到检测器，检测器通常是二次电子检测器或反向散射电子检测器。然后电子束与样品相互作用，样品的表面特征被检测并投射到探测器上。然后将收集的数据发送到分析软件并生成图像。PHILIPS CM还具有一个真空室，用于从样品和电子枪之间的空间清除任何空气分子或其他污染物。这允许更高分辨率的图像，以及消除空气分子对样品造成的任何潜在损害。CM还提供了几种高级功能，例如能够改变电子束的能量，使用户能够分析一系列不同的材料。PHILIPS/FEI CM还具有收集元素信息以及执行各种表面分析任务的能力。总体而言，FEI CM是一种高度精密且用途广泛的扫描电子显微镜，能够产生到纳米尺度的极其详细的材料图像。其广泛的特性使得它成为材料科学家、半导体制造商和研究人员的热门选择。