二手 PHILIPS / FEI CM10 #9298539 待售

PHILIPS/FEI CM10是一种扫描电子显微镜（SEM），用于在高放大倍率下观察样品的各种物理和形态特征。FEI CM10构建在耐用、低振动的平台上，适合研究和工业应用。PHILIPS CM 10由高性能硅漂移探测器（SDD）提供动力，在高放大倍率下捕获样品的详细图像。最大放大倍率高达250,000X,显示分辨率为3nm。SDD还使SEM能够精确检测多达40个元素,使其成为分析样品化学成分的绝佳工具。飞利浦CM10提供多种观测模式，包括二次电子成像（SEI）、反向散射电子成像（BEI）和电子反向散射衍射（EBSD）。SEI允许用户在标本表面上捕捉精细细节的图像，而BEI允许他们查看构图和微观结构特征。EBSD模式可用于分析晶体样品，观察晶粒取向和微观结构特征。CM 10还具有高精度扫描阶段，允许它在X、Y、Z方向扫描样品。这个扫描阶段的速度高达2mm/sec，与各种附件如样品支架和检测器兼容。此外，它还具有用于特定应用的专门功能，包括用于原位加热、电气监测、离子成像和磁性样品成像的功能。FEI CM 10提供了易于使用的图形用户界面（GUI），使学习和操作变得直观。此SEM还具有一系列高级成像和分析程序,允许用户增强其分析功能。它具有出色的信噪比,即使在低放大倍率下也能确保高质量的成像。简言之，CM10是广泛应用的理想工具，从基础研究到工业分析。它提供了卓越的成像质量，一系列的观测模式，以及各种特点，以增强分析能力。