二手 PHILIPS / FEI CM100 #293587495 待售

PHILIPS/FEI CM100是一种扫描电子显微镜（SEM），在一系列科学或工业应用中为样品提供高分辨率成像和分析。它使用电子束激发样品，然后检测得到的二次电子，并用于构建样品的图像。此SEM配备了许多功能,使其非常适合一系列应用程序。FEI CM100使用冷场发射枪产生电子束，提供高达0.8 nm的出色空间分辨率。设备还配备了高压电源，使广泛的工作电压可用于样品分析和成像。这个SEM还配备了电子束感应电流（EBIC）探测器，允许半导体和绝缘材料的成像，而无需光激发和相关的噪声。PHILIPS CM100能够进行高分辨率元素微观分析,提供卓越的深度和组成信息。该系统同时配备了BSE检测器和二次电子检测器，可用于识别样品的表面和元素组成。EBIC检测器可以进一步启用p-n结的成像，提供功率电路和其他半导体器件的结构和组成的定量分析。CM100还配备了能量色散X射线光谱仪（EDS），使样品成像得到详细元素图的补充。二级和反向散射电子探测器与EDS的结合有助于快速识别样品的特征和潜在缺陷，有助于加快分析和评估过程。PHILIPS/FEI CM100还提供一系列高级成像模式,包括SEM和STEM成像。这样就可以对样品进行高分辨率成像，而无需额外的样品制备。该单元还能够自动进行舞台移动，从而能够快速获得和分析大面积图像。FEI CM100是一种先进的扫描电子显微镜，特别适合研究和工业应用。机器的各种特性使其非常适合材料的评估和分析，以及半导体和其他器件结构的成像。PHILIPS CM100具有多种探测器、成像和分析模式,提供无与伦比的成像和分析功能。