二手 PHILIPS / FEI CM100 #293646003 待售

ID: 293646003
Transmission Electron Microscope (TEM).
PHILIPS/FEI CM100是一种功能强大的扫描电子显微镜(SEM),旨在提供各种样品的精确图像。它配备了肖特基场发射枪(FE)源、二次电子探测器、X射线探测器和STEM探测器。在成像、分析测量和晶体学制图方面,FEI CM100提供了高性能和灵活性。该设备分辨率为3 nm,具有可调的0.7至30 kV加速电压,允许对一系列样品进行成像。该系统还实现了亚纳米分辨率和16位动态范围,有效地解决了样品特征和样品中潜在的原子排列。该装置兼具肖特基场发射(FEI)和热场发射枪(TFE)源。肖特基光源提供只有0.15nA的低电流,并允许非常精确的光束控制。反过来,热源提供了高达20nA的更高电流,以提供更快的成像速度。这两个源都可以传播到30 kV,确保了广泛的可能动能范围,可以进行即时调整,而不必重新调整束能量。飞利浦CM100可以配备一系列探测器,包括二次电子探测器、X射线探测器和STEM探测器。二次电子探测器提供样品最上层原子层的图像;X射线探测器提供样品元素分布的图像;STEM探测器可以提供单个原子的图像。CM100还提供电流、电压和电位等电极信号的分析。显微镜带有一个生产级软件包,允许用户存储信息和图像以生成结果供以后分析。此外,该机器还提供自动化解决方桉,以便可以重复进行成像或分析测量,从而提高样品吞吐量。综上所述,PHILIPS/FEI CM100是一种功能强大、用途广泛的扫描电子显微镜,能够以亚纳米分辨率和高精度成像各种样品。其可调的加速电压、肖特基和热FE源,以及检测器的范围使其具有灵活性,使其能够快速方便地提供成像和分析结果。
还没有评论