二手 PHILIPS / FEI CM12 #9090827 待售

PHILIPS/FEI CM12扫描电子显微镜（SEM）是一种高性能成像设备，可以让用户以高放大率和高分辨率观察和分析材料的表面成分。SEM为各种研究和工业应用提供了广泛的功能,包括样品检查和深入的材料分析。FEI CM12利用电子束以多种方式创建样品的图像，如生成二次电子（SEs）、反向散射电子（BSEs）和反射电子。这些图像提供了关于表面的物理和化学性质的准确和详细的信息，甚至提供了用光学显微镜无法观察到的小特征。PHILIPS CM 12提供了一个大幅面的数字成像平台，带有一个额外的大腔室，以及用于大样本观测的平铺能力。大腔室允许用户以高分辨率可视化更大的区域，而拼贴能力使得它成为宏观和微观样本映射的理想选择。CM 12还提供了自动图像缝合和缩放工具,可用于将多个图像组合为一个无缝图像。此功能对于深入分析大型样品特别有用,因为它消除了手工缝制样品所需的时间和工作量。SEM还可用于通过能量色散X射线光谱（EDS）检测和绘制样品上的表面元素。此技术允许用户以高精度识别和测量样品中元素的痕量。EDS系统配备了一个内置软件，提供数种用于定量和定性分析的高级功能，能够执行更加复杂的分析和数据处理。PHILIPS CM12在二次电子模式下提供高达1.2 nm/pixel的最高分辨率,在反射电子模式下提供0.63 nm/pixel的最高分辨率。SE探测器通过低压模式和专用探测器阵列进一步增强,可用于各种应用。此SEM系统易于使用,并以出色的客户服务和培训支持为后盾,提供可靠可靠的性能。无论您是研发实验室、质量保证部门还是工业工艺系列,PHILIPS/FEI CM 12扫描电子显微镜都可以帮助您深入了解材料的成分,从而实现更好的产品性能和成本节约。