二手 PHILIPS / FEI CM12 #9284248 待售
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ID: 9284248
Scanning Electron Microscope (SEM)
With GATAN Ultrascan 4000 Oneview camera
Thermionic electron
Image resolution:
Point to point: ≤0.34nm
Line to line: 0.2nm
Transmission (TEM)
Scanning transmission (STEM)
Selected area diffraction (SAD)
Micro-diffraction (μD)
Convergent beam electron diffraction (CBED)
Bright field
X-Ray Energy Dispersive Spectrometer (EDS)
Elemental spectra
Map
Transect profile data
Modes:
Dark field operating
Standard TEM
Scanning
Powerful pre optimized recording
16 Megapixel CMOS sensor:
Sensitivity
Speed
LaB6
OneView camera excels
Unparalleled 25 fps
Real time drift correction
Dynamic range extension
Focused beam with high current
Density small diameter
EDS X-ray micro analysis
Spatial resolution micro analysis
Bulk (about 0.5 -3 microns)
STEM wide range:
Imaging
Analytical capabilities
EDS System
Dynamic processes with
N-Situ electron microscopy
4096 x 4096 Ppixels 25 fps
512 x 512 Pixels over 300 fps
25 Frames per second
4000 x 4000 Resolution
16 pixel CMOS Sensor
Magnification range: 31x to 660000x
Thermionic electron source
Selectable beam acceleration voltage 20kV -120kV.
PHILIPS/FEI CM12是一种具有卓越结构分辨率和高性能成像能力的像差校正扫描电子显微镜（SEM）。它是全球高端电子显微镜系统领导者FEI制造的顶级扫描电子显微镜。FEI CM12的尖端设计采用透镜内电子光学系统,可实现强大的像差校正,从而大大改善成像性能,优于传统的扫描显微镜,并提高了样品处理能力。低加速电压意味着低能电子被用于成像，从而提高了对比度和二次电子产率，从而提高了成像效率。该电子显微镜采用先进的光束成形技术，如电子透镜像差校正和先进的对比度改进，以确保尽可能高的图像质量。光束成形过程还有助于去除色差，色差在高放大倍数下会降低图像的质量。PHILIPS CM 12能够在各种样品类型中实现高达1nm的高分辨率成像功能。此外，它的能量过滤单元加上高分辨率固态检测器提供了广泛的成像能力，从元素映射到电子断层扫描。该系统提供远程访问，使科学家能够加强研究速度和灵活性。这使研究人员能够方便地从远离显微镜的单独区域控制SEM，提供舒适性和专注于实验的能力，而不会哄骗系统。CM12提供卓越的性能,并提供额外的功能和选项,使它既灵活又方便用户。CM 12具有出色的像差校正能力、高分辨率成像和广泛的成像选项,是高分辨率成像应用的理想选择。
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