二手 PHILIPS / FEI CM12 #9315596 待售
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ID: 9315596
优质的: 1990
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM)
Gun: Tungsten / LaB6
Energy: 20 Kv to 120 Kv
Point resolution: 0.34 nm
Lattice resolution: 0.20 nm
STEM Magnification: 70x to 510,000x
TEM Magnification: 100x to 800,000x
Minimum focused probe: 2 nm
1990 vintage.
PHILIPS/FEI CM12是一种场发射扫描电子显微镜(FE-SEM),常用于材料科学和材料工程领域。它是一种利用场电荷电子对样品材料表面成像的电子显微镜。这类电子显微镜与其他更传统的电子显微镜类型,如透射电子显微镜(TEM)相比,允许更高的分辨率成像。FEI CM12配备了允许高分辨率成像的超稳定场发射电子枪(FEG)。FEG由一根钨丝组成,当施加电压时加热和发射电子,产生比TEM产生的分辨率更高的样品材料图像。PHILIPS CM 12利用许多其他功能和组件来产生图像。其中包括一个自动对焦设备、一个自动调平系统、一个球形偏转器线圈、一个顶入式样品更换器和一个低压高放大柱。自动聚焦单元利用微灵敏检测器调节电子束的焦点,以提高图像的分辨率。自动调平机确保显微镜的标本级始终水平稳定,有助于保持一致的分辨率水平。球形偏转器线圈使用电磁体调整电子束的方向,提供最高可能的解析度。顶入式换样器允许在成像过程的中间快速且容易地改变样品材料。这样可以方便地重新定位标本,并确保不会中断成像过程。低压高放大柱允许在相对较低的电压下对样品进行高分辨率成像。总体而言,PHILIPS CM12是一种最先进的扫描电子显微镜,它提供高分辨率成像和许多功能,使其成为材料科学和材料工程应用的理想选择。它是一个有价值的工具,可以让科学家深入了解他们正在研究的材料。
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