二手 PHILIPS / FEI CM200 FEG #293639217 待售

PHILIPS / FEI CM200 FEG
ID: 293639217
System.
PHILIPS/FEI CM200 FEG是一种扫描电子显微镜(SEM),为用户提供了一种研究微观样品的有效方法。SEM利用阴极发光利用标准二次电子探测器和薄膜X射线探测器同时拍摄样品。显微镜由场发射枪(FEG)提供动力,该枪将聚焦的电子束分配给小尺寸的快速成像样品。这种可靠的成像设备非常适合分析微观结构,与其他成像系统相比提供了前所未有的详细程度。FEI CM200 FEG的高速数据采集能力非常适合物理科学和半导体研究。SEM的双射手功能为上下表面拍摄提供了同时成像解决方桉,从而消除了样品长时间的舞台移动。SEM具有1-2kV的低加速电压,进一步降低了充电效果。飞利浦CM200 FEG配备了高分辨率数字成像系统。该单元包含一个室内计算机和一个二次电子探测器,能够捕获放置在舞台上的样品的高分辨率2D图像,用于测量和深入分析。它还包含一个自动化的样品对齐机,以提供高达1微米的分辨率和定向的样品在圆形运动的直径可达8毫米。CM200 FEG还具有一个具有600毫米x 600毫米移动范围的自动化舞台。舞台能够提供精确的横向运动和倾斜位置的重复性。这使得SEM能够在大面积上精确地移动,并提供对显微镜的精确控制,同时保持优越的稳定性。该装置还具有样品级和二次电子探测器上的冷却元件,稳定了SEM的环境,减少了热波动。PHILIPS/FEI CM200 FEG还配备了用于精确数据采集和控制的高级软件以及自动图像扫描仪。图像扫描仪可以精确控制电子束偏转工具,该工具用于自动定位和分析样品中的材料。这为科学家在一次扫描中研究和分析样本的几个区域提供了一种有效的方法。此外,先进的软件为用户提供了一个简化的界面,用于控制他们的测量和滤除任何噪音。FEI CM200 FEG由于具有多种特性和先进的技术能力,是分析微观样品的理想工具。它提供精确的高分辨率成像、高效的阶段移动和自动化的软件功能,使样本分析更加高效和准确。PHILIPS CM200 FEG拥有众多功能和可靠的影像资产,是任何实验室的理想解决方桉。
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