二手 PHILIPS / FEI CM200 #9189104 待售

PHILIPS/FEI CM200是一种先进的扫描电子显微镜（SEM），设计用于可靠地表征低至纳米级分辨率的材料。其最先进的成像技术为调查生物和工业材料提供了一套全面的分析工具。FEI CM200利用带有灯丝的电子源，在真空室中加热发射电子。为了获得最高分辨率和最佳对比度的图像，使用了一个扫描线圈，其中电子束被扫描穿过样品。除了动态图像形成之外，还可以从各种探测器收集数据来分析样品表面组成信息。SEM实现了广泛的成像能力，从镜头有限分辨率到表面元素映射。所有的成像选项都是为了方便快速和高精度的分析而设计的。其最大放大倍率下的图像分辨率高达1纳米，具有直观的用户界面，使操作更加容易。PHILIPS CM 200使用先进的自动化舞台技术对样品进行精确的自主定位，使其能够快速调整位置，捕获大阵列图像，生成完整的概述。它的5轴断层扫描选项允许样品以各种角度倾斜和旋转以进行3维成像。它还支持双成像的相关性，将两种不同类型的图像相互比较。除了成像之外，CM200还提供了许多分析工具来进一步表征标本。这些包括能量色散X射线光谱（EDS）、波长色散X射线光谱（WDS）、电子反向散射衍射（EBSD）。EDS和WDS允许精确的元素分析和映射，EBSD提供晶体学结构的信息。PHILIPS/FEI CM 200是一种强大的扫描电子显微镜，设计用于分析纳米级的一系列材料。其先进的成像能力，加上全面的分析工具，使其成为各种研究应用的合适工具。