二手 PHILIPS / FEI CM200 #9232065 待售

PHILIPS/FEI CM200是一种扫描电子显微镜（SEM），专为高级成像和分析应用而设计。广泛用于纳米级成像和亚微米表面分析。FEI CM200具有200 kV场发射电子源,可提供高分辨率成像,同时减少散光。其ClearCMOS™探测器为多通道成像提供了同时二次和反向散射电子，从而实现了更快的信噪比和更好的数据质量。PHILIPS CM 200具有独特的自动对比度功能,可提高图像质量,使用户无需事先了解材料或其特性即可分析样品。CM 200设计具有先进的计算能力，使科学家和工程师能够更快、更精确地捕捉图像。显微镜具有高速X、Y扫描、较大的Z扫描范围和高达1KHz的最大扫描速率。还支持立体成像、3D表面成像和多种成像模式。飞利浦CM200旨在满足各种材料分析的需要,包括半导体故障分析、先进的3D表面表征、缺陷定位和分析以及泄漏电流成像。CM 200先进的自动化技术简化了样品加载和对齐,使用户可以在单个会话中对多达24个样品进行成像。除了成像能力外，PhilipPHILIPS/FEI CM 200还提供多种分析能力，包括元素分析、化学成分映射、沉淀监测等等。显微镜还支持种类繁多的探测器，为用户提供了为特定应用选择正确探测器的灵活性。FEI CM 200是一种先进的扫描电子显微镜，为各种应用提供先进的成像和分析能力。它内置的自动化功能使其易于使用,其先进的功能使其成为实现最高分辨率图像和准确样本分析的理想选择。