二手 PHILIPS / FEI DB237 #293620721 待售

PHILIPS / FEI DB237
ID: 293620721
Scanning Electron Microscopes (SEM).
PHILIPS/FEI DB237是一种扫描电子显微镜(SEM),用于微观结构和表面的研究。它配有高分辨率、场发射阴极,产生高能量、小直径的电子束,使样品的成像容易准确。电子束指向位于半磁性样品支架上的样品,允许大范围的倾斜角度,让使用者有机会从不同角度观察样品的特征。此外,该设备还包括一个二次和反向散射电子(BSE)探测器,它提供了纳米尺度的材料结构信息。这与从初级电子束收集电子的能力相结合,使使用者能够以原子水平的分辨率测量表面地形。该系统的其他功能包括用于放大、平移和像素平均的数字图像视频处理。此外,FEI DB237还提供低真空模式,使生物样品和聚合物等非导电材料能够成像。该单元还提供柱内能量过滤光谱(EELS),用于元素映射和化学成像,使其适合各种研究任务。集成软件进一步增强了PHILIPS DB 237的功能,为用户提供了不同的工具,用于图像分析、3 D曲面重建、定量分析和图像处理。机器直观的图形用户界面简化了操作,使研究人员能够充分利用这一SEM。总之,DB237是一种高性能的紧凑型SEM,使用户能够在原子层面观察和分析样品。它结合了高分辨率电子束、BSE探测器和集成软件,使研究人员能够以纳米尺度的分辨率执行表面地形和元素映射任务。
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