二手 PHILIPS / FEI EM 400 #9298535 待售
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ID: 9298535
Transmission Electron Microscope (TEM)
Twin lens with STEM / TEM
Resolution: 2.04 Angstrom.
PHILIPS/FEI EM 400扫描电子显微镜（SEM）是一种用于超高分辨率查看和分析微观结构的强大研究工具。它利用了多种成像技术，包括反向散射电子成像（BSEI）、二次电子成像（SEI）和EDX（能量色散X射线光谱）。通过结合这三种技术的能力，FEI EM 400能够为研究人员提供大量有关样本组成和形态的详细信息。飞利浦EM 400具有超高分辨率VGA式电子探测器，专为扫描电子显微镜设计。这个探测器与一个新颖的快速扫描系统结合使用，这使得能够在几秒钟内获取各种各样的图像类型。它能够在高分辨率模式下以高达每秒1,200张图像的速度处理样本,或者在中等分辨率模式下以每秒3,500张图像进行处理。另外，EM 400配备了先进的微米级对准，允许精确的标本定向和定位。为了卓越的影像性能，PHILIPS/FEI EM 400配备了最先进的野战发射枪（FEG）。这种FEG为用户提供了高通量的电子，从而提高了图像对比度和优越的分辨率。此外，其先进的单晶光学提供了最佳的图像亮度、协作性和均匀性。此外，显微镜能够在不同的真空压力条件下工作，范围从30到0.5 PA。FEI EM 400还具有几个专有功能，使用户能够优化其仪器的性能。其中包括数字图像采集系统（DIAS）,它提供了强大的图像处理套件,可以校正对比度、测量样品尺寸以及将图像从显微镜传输到远程PC。此外,显微镜还配备了内置的热场发射源（TFES）探测器,可以精确定位样品级,从而改善了图像采集。最后,PHILIPS EM 400是一种用途极为广泛的扫描电子显微镜,它结合了先进的成像技术和先进的电子光学元件,为研究人员提供了详细的样品视图。通过利用其野外发射枪、单晶光学器件以及一系列的专有特性，用户可以以最小的努力优化机器的性能，以获取高质量的图像。
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