二手 PHILIPS / FEI EM 400T #9257475 待售
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ID: 9257475
Transmission Electron Microscope (TEM), parts machine
Multi-axis specimen holders
(19) Nozzles
(4) Metal mesh filter tubes
(2) Extender cards
CCD Cameras
Pre-vac gauges
Lens regulator
HIVAS Gauges
Evaluation electronics
Sensors
Image processing unit
Circuit boards
Spare parts
Manuals included.
PHILIPS/FEI EM 400T是一种专用于纳米级样品成像和表征的热场发射扫描电子显微镜（TFE-SEM）。它具有模块化设计,允许根据用户的应用程序需求进行自定义。FEI EM 400T配备了200毫米平极扫描电子源、大功率25毫米球极扫描电子源，以及高精度低能量网格式火炮对准设备。它还配备了创新的镜头内双倾炮对准系统，方便改变电子束的倾斜度和焦点。飞利浦EM 400T提供先进的现场发射技术,实现快速、精确的样品成像.它设计了一个大的图像场，包括一个16百万像素的数码相机，可以捕获图像高达4K分辨率。EM 400T的最大工作距离为10 mm，分辨率为1.2 nm。它还有一个自动化的样本交换单元，允许扫描多个样本而不会中断。PHILIPS/FEI EM 400T提供了一系列令人印象深刻的成像功能,包括反向散射电子（BSE）、二次电子（SE）、能量色散X射线光谱（EDS）、阴极发光（CL）和广谱成像（BSI）。它还具有广泛的强度和过滤器控制。该仪器的超稳定采样台和采样架具有良好的隔振性能和良好的采样定位和对准精度。FEI EM 400T包括基于PC的集成控制机器和直观的软件接口。此工具提供了一整套用于创建高质量图像的工具,例如对比度和阈值控件、图像平均和图像缝合功能。它还配备了自动化的样品准备工具，使用户能够快速准备样品成像。总体而言，PHILIPS EM 400T是研究各种纳米级样品的理想仪器，如矿物、纳米颗粒和光电材料。EM 400T凭借其创新的现场发射技术、一系列成像功能和自动化的样品准备工具,为各种应用程序提供卓越的成像和表征性能。
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