二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293587354 待售

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293587354
Focused Ion Beam (FIB) System Insulator Pt Carbon GIS XeF2.
PHILIPS/FEI FIB 200是一种双束扫描电子显微镜,一种提供高分辨率成像能力的工具。显微镜配备了多种特性,使其成为各领域研究人员必不可少的工具。基本光学系统由阴极射线源和多种透镜和控件组成,用于聚焦和操纵电子束。显微镜还具有聚焦离子束(FIB):这种装置能够直接操纵毛细管,允许诸如铣削和钻孔等操作。同一台仪器上电子束和离子束的结合使其既能实现高分辨率成像,又能实现纳米加工。显微镜本身的最大分辨率为0.8 nm,视野高达4 mm。它能够在30 kV至30 kV运行,并且可以调整为多种不同的操作模式。此外,仪器还有一个可用于样品分析的分析系统,提供来自二次电子、反向散射电子和X射线的信号。FEI FIB 200是一种多功能成像仪器,能够产生一致的高质量结果。它结合了电子束和离子束成像能力,以及低功耗和广泛的操作模式,使其成为研究人员的绝佳选择。飞利浦FIB-200是一个令人难以置信的精确和可靠的机器,提供最高水平的质量和准确性。
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