二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293594795 待售

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293594795
Focused Ion Beam (FIB) system Ion column GIS Included.
PHILIPS/FEI FIB 200是为现代研究环境设计的最先进的扫描电子显微镜(SEM)。它被设计成具有高质量的成像能力,使它能够观察到即使是最微妙的样品中的结构。一种集成的野外发射枪(FEG)有助于它的高分辨率,它允许对原子尺度的材料进行侦探研究。该仪器配备了高精度的样品室,为从精细编织织物到易碎生物材料的样品提供了稳定而坚固的安装。同时,它的大型250 mm目标样本量可容纳各种不同样本量。该显微镜具有先进的野外发射枪高分辨率成像性能,非常适合缺陷分析、纳米结构成像、纳米技术等研究。这种增强的成像分辨率得到实时弹道电子的支持,以便即使在成像一个微妙的样品时也能固定一个锐利的图像。再者,交互式数字手动扫描模式允许用户根据需要调整扫描参数。FEI FIB 200与强大的能量色散光谱(EDS)系统集成在一起,提供样品元素组成的分析。它与超分辨率镜头兼容,让用户即使在高度敏感的样品中也能进一步推动分辨率极限。此SEM对用户友好且符合人体工程学。图像控制站和大而直观的控制垫等功能使样品成像和操作更方便用户。PHILIPS FIB-200用途广泛,用户只需一台仪器即可执行各种任务。其卓越的成像分辨率和直观的界面使其成为各种研究的理想工具。
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