二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293595359 待售

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293595359
Focused Ion Beam (FIB) system With magnum column (3) GIS Units PC.
PHILIPS/FEI FIB 200是一种扫描电子显微镜,结合了场发射电子光学、聚焦离子束(FIB)技术和先进的分析。此功能强大的工具旨在为操作员提供全面的映像和分析功能。FEI FIB 200的主要部件是革命性的双探测器系统。这由一个提供快速地形分析的环形暗场(ADF)探测器和一个反向散射电子(BSE)探测器组成,可以识别不同的化学成分。飞利浦FIB-200的ADF检测器允许极高分辨率成像。这种强大的成像能力可产生3纳米的最大分辨率,提供高度详细的图像。除了令人印象深刻的成像能力外,FEI FIB-200还配备了精确离子束发生器。这提供了更高的制造精度,使集成系统能够产生高质量的横截面图像,以及具有无与伦比的精度的高分辨率三维曲面重建。FIB-200还包括一个集成的FIB-SEM端口,该端口允许与FIB系统进行无缝连接,用于高分辨率成像、原子探针断层扫描和其他高级分析。此特性显着增加了系统的多功能性,因为可以直接操纵各种样本结构。PHILIPS/FEI FIB-200最令人印象深刻的功能之一就是其高级软件。此软件套件提供了多种功能强大的工具,包括自动生成图像序列、自动检查复制的样本以及交互式3 D数据分析。FIB 200为即使是最复杂的样品的成像和分析提供了完美的解决方桉。这种扫描电子显微镜结合了场发射电子光学、聚焦离子束技术和先进的数据分析,是任何实验室必不可少的工具。
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