二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293648640 待售

ID: 293648640
Focused Ion Beam (FIB) system Pre-lens system.
PHILIPS/FEI FIB 200扫描电子显微镜(SEM)是一种强大的成像和分析工具。该显微镜利用场发射枪(FEG)来达到电子向样品的最佳转移。与传统的TEM/SEM显微镜相比,FEI FIB 200可实现更高分辨率的成像、更好的景深和更高效的操作。该仪器具有可扩展的放大范围从五千到十万倍和低噪音,具有极好的能量分辨率高达0.2 eV。这部分是由于长度为200 mm的大型Cs场镜头,确保了最佳的图像传输和检测。低真空条件(<0.04 Pa)允许用户对细腻的样品进行成像,最大限度地减少样品损坏。SEM还有一个聚焦稳定传感(FSS)系统,可以延长观测时间。飞利浦FIB-200配备高精度舞台,确保最佳样品定位。此级能够在所有方向上移动最多100毫米的距离,并旋转最多± 40°。此外,该阶段能够在单个会话中执行堆迭的多点扫描,并具有V形网格和各种标准扫描附件。这种分析仪器有一系列的分析应用,其中一些包括能量色散X射线光谱(EDX)、二次电子成像(SEI)和透射电子成像(TEM)。它还具有在脉冲计数模式下收集众多高分辨率图像的能力,从而可以更准确地收集数据。FIB-200用户可以从其内置的自动化硬件和软件中受益,这大大缩短了安装时间,并可以探索仪器必须提供的额外功能,例如其常规电子束光刻功能。PHILIPS/FEI FIB-200 SEM是一种功能强大的分析和成像工具,提供一系列可靠的特性和功能。它在对有机和无机样品进行分析测量方面非常有效。它的高性能以及众多的自动化应用,使得这款仪器成为寻求可靠高效SEM的用户的最佳选择。
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