二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293676195 待售

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 293676195
Focused Ion Beam (FIB) system Gas Injection System (GIS): PT, EE UI: XP2.25 Magnum column Operating system: Windows NT 4.0.
PHILIPS/FEI FIB 200是一种扫描电子显微镜(SEM),是纳米级成像的强大平台。它具有出色的分辨率和对比度,并提供一系列增强的数据分析应用程序。FEI FIB 200利用聚焦离子束(FIB)去除样品的小区域,然后用电子束扫描暴露区域,观察样品的细节。此过程将SEM的成像功能与高级样品处理相结合。飞利浦FIB-200具有多种特性,使其成为研究和工业应用的绝佳选择。这台显微镜的扫描范围为8nm至50 μ m,总体放大倍率范围为5 x至500 x,可变光斑大小为1nm至100 nm。凭借其精确的定位阶段,科学家可以轻松导航到任何感兴趣的领域。PHILIPS/FEI FIB-200内置的SuperTwin E-Beam技术还提供卓越的图像质量。此功能可产生具有出色对比度的高质量图像。此外,FEI FIB-200可用于获取使用高级3D重建工具建模3 D结构所需的数据,该工具提供了高效的工作流。FIB 200还提供了独特的STEM(扫描透射电子显微镜)成像选项。STEM选项允许研究人员获得纳米尺度结构的高分辨率图像。它还提供了一系列数据采集选项,例如高速成像,以提供更具互动性的成像体验。PHILIPS FIB 200具有一系列其他功能,使其成为多种类型研究的理想选择。它设计为用户友好,提供直观的导航、操作和数字成像。它还提供高级分析功能,例如特征识别和测量工具,使用户能够快速解释其数据。最后,FIB-200拥有一系列能够进行强大数据分析的软件。其强大的InSpect软件允许用户分析和量化他们的数据,以及识别他们标本的重要结构特征。此外,它的EZSpect+软件提供简单的工作流,使用户能够在执行高级分析时节省时间。总体而言,PHILIPS/FEI FIB 200是一款功能强大的扫描电子显微镜,可提供高级成像和分析功能。它是一系列纳米级研究应用的理想选择,设计方便用户且易于操作。它提供了出色的图像分辨率、对比度和准确性,以及增强的分析工具和强大的软件。
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