二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #293756948 待售

PHILIPS/FEI FIB 200是一种扫描电子显微镜（SEM），设计用于纳米级成像和材料分析。它能够捕获10 nm或以下分辨率的高分辨率图像和样品轮廓。FEI FIB 200具有强大的场发射枪（FEG），具有电子纳米光刻能力。该柱配有静电四极一次能量滤波器，以进一步最大化分辨率，而可伸缩二次滤波器则保证无污染成像。有多种柱内探测器，包括反向散射电子（BSE）探测器、荧光X射线探测器、二次电子（SE）探测器和气态二次电子（GSE）探测器。PHILIPS FIB-200具有高分辨率的样本级，可容纳200毫米大小的样本级，以及广泛选择的自动化样本架，提供快速、方便的转换。封闭式气体注入系统（GIS）允许通过溅射、电抛光和离子束处理沉积金属层。这种多功能性使研究者能够以最小的努力对样本进行模式化、表征和修改。PHILIPS FIB 200可以作为常规SEM操作，也可以作为全方位气体注入显微镜（OMIG）操作，能够对样品进行现场观察和微处理。它还配备了电子束光刻（EBL），以提供精确的二维图样应用。除了FIB 200之外，FEI还提供了一系列模块化配件，可以添加到显微镜中，用于更专业的应用。这包括提供实时视频广播的数字视频系统，用于绝缘体表面分析的扫描离子微波束系统，以及用于多轴级运动的自动级控制器。PHILIPS/FEI FIB-200是纳米级成像和材料纳米加工的最佳选择。它结合了高性能组件、广泛选择的自动化样品持有者和附件以及全方位操作，使其成为纳米技术研究的有力工具。