二手 PHILIPS / FEI FIB 200 #9298847 待售

PHILIPS / FEI FIB 200
ID: 9298847
Focused Ion Beam (FIB) system.
PHILIPS/FEI FIB 200是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),用于观察和研究微观和纳米样品。这种特殊的电子显微镜用于材料科学、工业金相和生命科学领域的高分辨率成像和材料分析。FEI FIB 200配备了环境视图,使其能够在非真空条件和多种液态和气态条件下观察样品。这意味着显微镜可以用来分析样品,而不必在样品周围保持真空。扫描电子显微镜具有高分辨率电子探测器,能够检测能量分辨率为0.01 eV的电子。这很重要,因为它可以以足够高的分辨率测量电子,以检测图像的最小特征。飞利浦FIB-200还配备了二次电子探测器。这一点很重要,因为它允许显微镜检测电子束撞击样品表面时产生的二次电子。这对于研究样品的表面特性和生成高分辨率图像很有用。PHILIPS FIB 200还具有超高真空系统,允许在受控的环境中对样品进行研究。这一点很重要,因为它最大限度地减少了样品的污染,避免了空气中其他气体对样品造成的损害。电子显微镜有两个互补的照明系统。首先是场辅助照明系统,利用从样品上散射出来的反射电子产生样品的明亮图像。二是二次电子模式,通过检测电子束撞击样品时产生的二次电子,生成样品表面的明亮图像。最后,PHILIPS/FEI FIB-200具有高分辨率数码相机,可用于生成样品的数码图像。此外,显微镜还配备了允许对样品进行3D重建的软件。这对于创建可用于分析和可视化示例的三维模型非常有用。
还没有评论