二手 PHILIPS / FEI FIB 820 #9137621 待售
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已售出
ID: 9137621
晶圆大小: 8"
优质的: 1995
Dual beam FIB, 8"
Chamber:
8" High vacuum
TMP Pumping system
Manual loading type loader
(5) Axis motorized stages
Chamber CCD camera
Electron gun:
XL30 FEG column
Type: Se-cathode
Multiple hole aperture
SE Detector
(2) Ion pump
Ion gun:
LMIS Ga ion gun
(1) Ion pump
Gas gun: Enhanced etch gun
Depo gun: PT Deposition gun
Control PC:
Maxpro 1000 system
Windows NT
Control rack:
HTSU
Power supply: 30KV Electron gun
Power rack:
Electron gun IGP controller
Ion gun IGP controller
Stage control PCB and power
ETC:
Power supply: 30KV Ion gun
Extenernal TMP controller
Missing parts:
Wafer holder
Stage control power supply
Vacuum pump
Control pad
Trackball
1995 vintage.
PHILIPS/FEI FIB 820扫描电子显微镜（SEM）是在物理、化学、材料科学、地质学、生物学等领域研究的多用途、功能强大的成像工具。它提供5 nm的最大分辨率、2D/3D成像功能、开放式平面图,以及大量的探测器、放大倍率、气体环境和舞台配置。FEI FIB 820的大型开放式平面图，方便样品定位和拆卸，所有真空连接、电子等部件都位于直接工作区之外。扫描平台设计用于各种样品，包括金属和电子产品的小块、生物样品、材料的小颗粒等等。PHILIPS FIB-820具有全面的电子光学功能,放大倍数范围从20倍到300,000倍。它拥有多种探测器，提供高对比度、分辨率和信噪比的图像。其中包括二次电子探测器、反向散射电子探测器、二次离子探测器和X射线探测器等。高级映像软件具有许多优点,包括高级映像采集和操作功能。PHILIPS FIB 820还具有许多在气体环境中创建样品高分辨率图像的选项。通过控制气体压力和流量，用户可以达到高达10-10 Torr的真空水平，非常适合无机样品成像。气室还能够进行大气控制，允许各种气体环境，包括低温真空、超高真空和超低真空。PHILIPS/FEI FIB-820是纳米技术、生物成像、材料科学等应用的理想工具。它的开放式平面图、先进的成像选项和广泛的探测器使其成为希望提高成像能力的研究人员的理想工具。这款功能强大的SEM提供了出色的成像功能、广泛的操作范围和全面的组件,以满足大多数研究人员的需求。
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