二手 PHILIPS / FEI FIB #9358460 待售

PHILIPS/FEI FIB（聚焦离子束）扫描电子显微镜（SEM）是一种先进的仪器，用于生成生物和其他样品的纳米级图像。对硬质和软质材料的纳米级成像进行了优化，可以获得具有自然和人工对比度的极高分辨率图像。FEI FIB通过在同一仪器中同时结合聚焦离子束（PHILIPS FIB）和扫描电子束（SEM）来运作，使研究人员能够利用FIB操纵样品并生成高分辨率图像，然后用SEM查看这些图像。PHILIPS/FEI FIB具有离子扫描柱，用于控制样品中离子束的深度。这一列可以被操纵来集中在不同层次的样本上，让研究人员获取分辨率小至0.5nm的图像。此外，FEI FIB柱设有专用系统，用于控制离子束的角度、能量和速度，允许对样品进行精确的操纵和成像。飞利浦FIB用于生成具有单色和多色对比度的纳米级图像。单色成像利用单个电子能量产生对比度最大的图像。在多色成像过程中，可以使用多个电子能量，在图像中提供更多的深度信息，并让研究人员调查更广泛的样品。此外,还对FIB进行了优化,将实时样品成像与其它微观仪器的通信结合起来.PHILIPS/FEI FIB也可用于各种高分辨率断层扫描技术。这些技术让研究人员可以在三个维度上观察样本，提供比传统二维图像更详细的信息。层析成像技术，如聚焦离子束层析成像（FEI FIB-TEM）是用来测量一个样品的结构和内部特性，通过成像它在一个角度范围。简而言之，飞利浦FIB是纳米级成像和分析的宝贵工具。它结合了聚焦的离子束柱和扫描电子显微镜，对离子束的精确控制，以及强大的层析成像技术，可以在非常小的范围内为研究人员提供大量关于样品的信息。