二手 PHILIPS / FEI Inspect-F #9261821 待售

PHILIPS/FEI Inspect-F是一种扫描电子显微镜（SEM），提供一系列工业、科学和学术用途的分析能力。此显微镜是对前几代SEM的重大升级,提供了更高的分辨率和成像能力。FEI Inspect-F是一款先进的扫描电子显微镜，配有专利设计，产生低振动、高分辨率成像和先进的分析能力。它利用强大的涡轮泵浦真空系统进行广泛的成像和分析技术，包括二次电子、反向散射电子和X射线微分析。该系统适合从小截面到大结构的大小不一的样品。先进的电子光学配备了智能自动对焦系统，快速精确地聚焦电子束，生成高分辨率图像。光学器件被设计为最大限度地提高吞吐量和减少扫描时间，同时也允许完整的动态图像优化。大腔室的大小提供了充足的访问样品方便操作和导航。PHILIPS Inspect-F还具有多种复杂的仪器,可为各种分析过程提供一系列用户可配置的选项。它可以配备环形暗场（ADF）成像和能量色散X射线微分析（EDX）能力。该仪器包括大量的专用和可互换探测器集合，包括电磁能量滤波器（EIEF）、能量色散光谱（EDS）和电子能量损失光谱（AES）。Inspect-F的可靠操作还允许进行各种各样的额外分析，如X射线点分析（XPA）、光电子光谱（XPS）、粒子诱导X射线发射（PIXE）和阴极发光。样品室是温度控制一致的成像条件，确保可靠的结果分析任何类型的样品。总体而言,PHILIPS/FEI Inspect-F是一款高级扫描电子显微镜,具有广泛的分析功能、无与伦比的分辨率和卓越的性能。它的计算能力和仪器使其成为工业、学术和科学应用的完美工具。