二手 PHILIPS / FEI Inspect F50 #9239425 待售

PHILIPS/FEI Inspect F50是一种扫描电子显微镜（SEM），使用户能够在微观和纳米尺度上对样品进行高分辨率成像和分析。该SEM具有广泛的功能和功能,可提供精确的结果。FEI Inspect F50有场发射枪，产生高品质的电子束，稳定性提高，允许更高解析度的影像，同时将营运成本降至最低。电子柱的像差校正使使用者在获得其标本的惊艳图像的同时，也提高了景深和整体图像清晰度。二次电子探测器具有三维反向散射探测器阵列，具有较大的景深和优异的分辨率，特别适用于表面分析。飞利浦Inspect F50还配有高度先进的计算机系统，具有快速处理器和专用显卡，以及大量的RAM和存储空间。这样可以更快地从模拟器获取图像和组织数据。此外,Inspect F50还提供卓越的样品处理和成像功能。其镜头内自动舞台支持尺寸可达100毫米的样品,分辨率可降至1 Ångström。自动化阶段还能够处理许多样品，并对样品的加载、定位和跟踪进行精确控制。PHILIPS/FEI Inspect F50还配备了微观数码相机和集成微探针，用于扫描样品和收集纳米尺度的图像。最后，FEI Inspect F50还提供了一整套用户友好的软件工具，用于图像处理和SEM数据分析。其中包括用于创建三维图像的工具,以及自动测量和3D曲面分析。PHILIPS Inspect F50是一款先进、功能强大的扫描电子显微镜,提供精密的成像和分析功能,具有卓越的分辨率、样品处理和控制能力。其广泛的特性、功能和用户友好的软件工具提供了微型和纳米级成像和分析样品的终极平台。