二手 PHILIPS / FEI Nova 600 #9197165 待售

PHILIPS/FEI Nova 600扫描电子显微镜（SEM）是一种高分辨率成像和分析仪器，设计用于样品的超高分辨率检查和分析。它能够识别到纳米级以下的表面特征，并提供半导体和其他纳米级结构的高分辨率图像。该设备由一个焦化二次电子（SE）检测器、一个带静电枪进行电子束操纵的电子柱和一个样品级组成。FEI Nova 600还配备了能量色散X射线（EDX）光谱检测器，允许对样品进行定性和定量的元素分析。飞利浦NOVA600中的电子枪能够产生各种电子束电压和电流密度。这使系统能够从小至1 nm的曲面特征生成高分辨率图像。光束操作单元的工作原理是使x和y平面中的电子束以栅格模式偏转,从而能够定位样品上的表面特征。NOVA600的样本阶段能够在所有三个轴上移动-x、y和z。这使SEM能够扫描整个样本以获得样本曲面的精确3 D映射。这在样本的地形中提供了很大程度的详细信息,并有助于准确识别某些边缘和形状在样本表面上的位置。该机还具有自动化功能，以帮助优化图像分辨率和精细特性的对比度。其中包括用于优化总体图像质量的降噪和用于控制样本表面不同区域中样本焦深的动态焦点。最后，PHILIPS Nova 600配备了二次电子探测器和EDXSpectroscopy探测器。二次电子探测器的设计是利用样品发射的电子来优化样品的对比度和分辨率。EDXSpectroscopy能够对样品进行定量元素分析,并对样品表面存在的元素进行定性鉴定。总之，PHILIPS/FEI NOVA600扫描电子显微镜是一种非常强大的成像和分析仪器。通过提供纳米级的超高分辨率成像和元素分析功能,该工具允许对样品进行高度详细的检查。自动化特征和光束操作资产还提供了样本地形的精确3 D地图,从而可以精确测量表面特征和形状的位置。