二手 PHILIPS / FEI Nova NanoLab 200 #293824479 待售
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ID: 293824479
Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)
BRUKER XFlash 6160 EDS
EBSD Detectror
Micro XRF
Plasma cleaner
Selective carbon mill (MgSOm 7H20)
BRUKER Xtrace control unit
BRUKER Signal processing unit
PC.
PHILIPS/FEI Nova NanoLab 200是一种最先进的扫描电子显微镜（SEM）。该设备提供高达0.8纳米的高分辨率，使其成为纳米和微型成像最强大的工具之一。该系统具有优化的柱体系结构设计,即使在放大倍数较高的情况下也能确保出色的图像质量。FEI Nova NanoLab 200具有野外发射枪（FEG）电子源，与标准热电子发射器相比，它允许更高的电流密度、更高的相干性和更高的分辨率。这种先进的电子源,连同一个自动化的样品级,保证了操作过程中的稳定性.该设备可根据客户的要求量身定制,提供多种选项和配件。可以添加自动样品装载单元、冷却转盘和自动喷射器,以实现完全自动化。该仪器可用于明暗场成像与高度精确的自动对准机。利用低光束电流和非常低的样品损伤可以实现敏感成像。该工具灵活，可以容纳不同大小和形状的样本，能够捕获快速上升的信号或进行现场实验。该资产非常适合各种应用,从材料科学到地下成像。SEM可用于纳米级材料的研究，包括纳米结构和纳米级缺陷，以及纳米图桉表面的成像。此外，该仪器还具有先进的分析软件包，与直观的用户友好界面相结合。这使用户能够有效地进行定量分析和图像处理。PHILIPS Nova NanoLab 200的高分辨率和精密特性使其成为微纳米成像的理想选择。它适用于广泛的应用,因为其强大的源代码和全面的选项集可确保各种任务的可靠性能。
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