二手 PHILIPS / FEI Phenom #293605042 待售

PHILIPS/FEI Phenom扫描电子显微镜（SEM）是一种高性能、高分辨率的显微镜，设计用于成像多种材料和许多应用。通常用于研究从简单固体到复杂纳米结构等多种材料的组成、结构和性质。FEI Phenom结合了强大的蔡司设计电子枪，使用户能够获得纳米级的高分辨率图像。SEM配备了先进的聚焦离子计数检测器，可在所有模式下提供高对比度成像。所有组件都安装在坚固可靠的系统中,确保所产生的图像质量最高。PHILIPS Phenom配备了一个先进的扫描电子光学装置，它可以快速扫描各种放大倍数的样品。这些扫描范围可达20,000倍，高达300,000倍，使得Phenom非常适合研究纳米级结构和材料。电子枪还具有扫描多种不同材料的能力，因此可用于研究表面化学、元素组成和化学组成等应用。PHILIPS/FEI Phenom能够制作具有大量细节的高分辨率图像,即使高放大倍数也是如此。图像呈现在平板数字探测器系统上，该系统利用电荷耦合器件（CCD），使用户能够快速获取图像。CCD对X射线和M射线辐射高度敏感，也能够有效检测电子。FEI Phenom配备了用户友好的软件界面，允许用户轻松设置扫描、分析图像和操纵图像数据。界面还包括图像增强、自动分割、背景减法和数据过滤等诸多功能。此外,软件还提供了直方图、自相关、傅立叶变换、质量转换和数据归一化等综合分析工具。总体而言，PHILIPS Phenom扫描电子显微镜是一种先进的成像系统，非常适合需要大量细节的研究应用。其强大的电子枪、高分辨率的图像显示以及广泛的放大倍数，使其成为研究广泛材料的绝佳工具，从简单的固体到复杂的纳米结构。这种高性能的扫描电子显微镜是一种适合研发需要的理想设备。其强大的设计和用户友好的软件界面使其易于设置和操作,从而确保用户为其研究获得最高质量的图像。