二手 PHILIPS / FEI Phenom #9202448 待售
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已售出
ID: 9202448
优质的: 2009
Scanning electron microscope (SEM)
P/N: FP 3950/00
Imaging:
High brightness
Long-life electron source
Superior to tungsten SEMs
High resolution desktop SEM: Up to 20,000x
Resolution: <30 nm
Minimum field of view: 12 um
Electron optical range: 24000x
Digital zoom: 12x
Equipped with color camera
Included:
Manual control interface
Mouse joystick
Standard sample holder
Pfeiffer vacuum
Power supply
User manual
2009 vintage.
PHILIPS/FEI Phenom是一种扫描电子显微镜(SEM),提供高分辨率成像和对多种样品的分析。它将台式机和半专业SEM的最佳功能结合在一个方便的软件包中,使用户能够快速成像和分析各种材料。FEI Phenom利用最新的成像技术,配有高清光学系统和电子枪进行精确详细的成像。它配备了单色和多通道两种像素类型,在图像中创建更清晰的细节。图像在其集成液晶显示器上实时显示。飞利浦Phenom还提供了从10 X到500 X的一系列放大倍率,以适应各种样品类型和大小。Phenom结合了特殊的标本持有者,以帮助捕捉正在研究的样本内的独特行为。这些持有者允许对样品进行精确操作,以捕获应变和倾斜等信息,从而对其组成部分进行更详细的分析。内部电子控制系统确保准确的体积分析和适应所需的成像条件。PHILIPS/FEI Phenom专为易于使用而设计,允许更集中的研究或实验室工作。其直观的界面确保了快速的学习曲线和高效的操作。有一个自动参数设置的选项生成器,允许用户快速调整成像系统以满足他们的需求。FEI Phenom专为研究和工业用途量身定制。它的多功能性和易用性使用户能够对所有类型的样本进行快速而准确的分析。它提供了无与伦比的成像和分析能力来探索和评估各种样本。飞利浦Phenom结合FEI和PHILIPS专业技术,将强大的科学创新与可靠的质量相结合。
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