二手 PHILIPS / FEI Phenom #9362022 待售

PHILIPS/FEI Phenom扫描电子显微镜（SEM）是一种功能强大的仪器,用于对各种样品进行表面分析和成像,具有无与伦比的详细程度和准确性。它是为纳米分辨率成像而设计的，视野高达30 µm。该模型采用特殊的电子光设计，以实现高分辨率，并在成像过程中提供更大的稳定性。这项创新技术由柱内初级电子透镜和柱内进动破碎机透镜的独特组合组成，可对大小粒子进行高放大成像。FEI Phenom能够实现高达20 nm的分辨率成像和高达2000X的放大倍率,以进行极其详细的扫描。其专门设计包括一个独特的二次电子检测器，以最大化信号响应，并在恶劣的操作条件下减少样品损伤。这大大增强了其成像精细样品的能力。此外,用户友好的软件和自动化的功能,使操作快速和容易.SEM还提供高速图像采集和实时全分辨率图像推广功能。样品级可以在X-Y平面中轻松移动以进行精确对准，高速扫描模式允许快速成像。此外,样品可以与可选的对准激光器进行精细对准,从而在样品移动和对准方面获得最大的灵活性。PHILIPS Phenom非常适合对各种样品进行表面分析，从有机物体到陶瓷、复合材料、聚合物等非金属材料。SEM的卓越分辨率允许对诸如晶界、纤维和粒子等特征进行详细成像。此外,大视场和增强的信噪比可提高薄层和小特征的分辨率。总体而言,Phenom是一个功能强大的成像和分析工具,可用于具有多种功能和功能的纳米级成像。它提供了高级级别的细节和准确性,以及强大、易于使用的软件和自动化操作。它具有高分辨率、广阔的视野和多用途的设计,是表面分析、成像和纳米技术应用的理想工具。