二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 3D #9315970 待售

ID: 9315970
Scanning Electron Microscope (SEM) Dual beam With Ga ion source Acceleration voltage: 2-30kV Cutting-edge system Imaging and micro machining Surface imaging resolution: 1nm Resolution: 1.2nm at 30kV with SE detector FIB Resolution: 5-7nm ESEM Resolution: 1.5nm.
PHILIPS/FEI Quanta 200 3D是一种扫描电子显微镜(SEM),为成像、分析和计量应用提供了一系列功能。它是一种高分辨率的透射电子显微镜(TEM),比其他SEM模型具有更高的性能、准确性和灵活性。FEI Quanta 200 3 D作为二次电子检测器,具有反向散射电子检测器(BED)的特点,它具有传统BED和高效SuperFEG的溷合结构。飞利浦Quanta 200 3D提供高达50万倍的最大放大倍数,提供卓越的分辨率。仪器配备了独特的自动对齐阶段,使用户能够快速、准确地对样品结构进行剖析和自动对齐。Quanta 200 3D还具有20kV固定光束检测器,可确保出色的分辨率和成像样品的稳定性。此外,PHILIPS/FEI Quanta 200 3D优越的电子光学为用户提供了优化成像参数的最大灵活性,如电流供应极限和源电压。FEI Quanta 200 3D还具有高速CCD摄像头,允许实时观察分析。飞利浦Quanta 200 3 D的精确度和稳定性使其特别适合于操作环境中的三维结构成像。其先进的特性,如非接触式柱内检测器和先进的图像处理算法,使用户能够准确地可视化和控制复杂的三维结构。此外,Quanta 200 3D还为光束分析和计量提供了一系列选项。这些包括先进的电子反向散射模式(EBSP)光谱仪、能量色散X射线(EDX)光谱仪和残留气体分析仪(RGA)。通过将这些选项与SuperFEG和标准SEM检测器相结合,用户可以实现快速、准确的数据采集和分析。最后,PHILIPS/FEI Quanta 200 3D是一种最先进的扫描电子显微镜,在成像、分析和计量应用方面具有显着优势。该仪器出色的分辨率、准确性和灵活性使其非常适合可视化和控制复杂的三维结构,尤其是在复杂的操作环境中。此外,它的高级功能提供了快速、准确的数据采集和分析,并且它的光束分析和计量选项范围使用户能够快速分析和优化样本特性,而无需人工干预。总而言之,FEI Quanta 200 3D是现代实验室中一个有价值、功能强大的工具。
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