二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 FEG #293741838 待售

ID: 293741838
Scanning Electron Microscope (SEM) Tungsten ESEM Mode ETD Detector HTSU NYCE Motion controller Lo-vac LFD Detector Back Scatter Detector (BSD) Hard Disk Drive (HDD) PC.
PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG是一款前沿扫描电子显微镜(SEM),为各种研究和工业应用提供无与伦比的成像和分析能力。这种高性能仪器旨在满足先进显微镜的需求,为研究人员提供有力的工具来表征各种材料的形态、组成和结构。FEI Quanta 200 FEG以场发射枪(FEG)为电子源,与传统的热电子电子源相比,具有更好的电子束亮度和稳定性。这样可以提高成像分辨率和信噪比,从而能够以卓越的清晰度和对比度详细显示纳米结构和精细的表面特征。PHILIPS Quanta 200 FEG配备了一个用途广泛、配置性强的腔室,可容纳各种各样的标本类型、大小和形状。大腔室尺寸使得能够分析从小纳米颗粒到较大样品的样品,而可变压力模式允许对非导电或水合样品进行成像而无需涂层。Quanta 200 FEG的关键强项之一是其先进的成像能力,其中包括二次电子(SE)和反向散射电子(BSE)成像等高分辨率成像模式。该仪器能够在SE模式下实现亚纳米分辨率,使研究人员能够以非凡的清晰度可视化精细的表面细节和纳米结构。此外,BSE成像模式提供了有价值的成分对比信息,使其成为分析材料成分和分布的理想选择。除了成像之外,PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG还提供了一系列分析功能,以进行深入的材料表征。先进的能量色散X射线光谱系统能够以高灵敏度和空间分辨率进行元素分析和制图。研究人员可以准确识别和量化样品的元素组成,获得对材料性质和化学成分的宝贵见解。此外,FEI Quanta 200 FEG配备了电子反向散射衍射(EBSD)能力,用于材料的晶体学分析。这使得研究人员能够调查样品的微观结构特性,包括晶粒取向、相位识别和纹理分析。PHILIPS Quanta 200 FEG上的EBSD系统为研究晶粒级材料和了解材料的机械和热性能提供了宝贵的信息。Quanta 200 FEG由用户友好的软件控制,该软件可实现直观的操作以及图像和分析功能的无缝集成。该仪器提供了一系列自动化功能,以提高生产率,包括自动对焦、自动标记和自动图像采集。研究人员可以有效地获取和处理数据,节省时间,并能够快速洞察样品特性。最后,PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG是一种功能强大且用途广泛的扫描电子显微镜,它为广泛的应用提供了先进的成像和分析功能。研究人员可以依靠这种高性能仪器,对物质属性提供详细的见解,使科学技术各领域的开创性发现和进步成为可能。
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