二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 FEG #293826926 待售
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ID: 293826926
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM)
Energy Dispersive X-ray Spectroscopy (EDS/EDX) system
Secondary Electron (SE) detector
Backscattered Electron (BSE) detector
GENESIS XM 4i with Si (Li)
Liquid nitrogen dewar: 10 liters
Large specimen chamber
Power transformer
Motorized stage
Rotary pump
Control table
Water vapor
Spatial resolution: 15 kV: 2.1 nm, 1 kV: 5 nm
Low vacuum (LV): P = 10 to 130 Pa
High vacuum (HV): P<6.10-4 Pa
Operating voltage: 0.5-30 kV
Peltier stage: -20°C - +100°C
Probe current: < 100 nA
ESEM: P = 10 to 2700 Pa
Heating stage: 1500°C
(2) Turbo molecular pumps
(2) Ionic pumps
(3) Screens
(2) PC.
PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG是一款先进的扫描电子显微镜（SEM），以其在广泛的科学和工业应用中的卓越成像能力和多功能性而闻名。该仪器配备了场发射枪（FEG）作为电子源，提供高分辨率成像、出色的信号检测和精确的光束控制，在纳米级对样品进行详细分析。FEI Quanta 200 FEG的核心是它的野外发射枪，产生高亮度和相干性的聚焦电子束。这种电子源与传统的热电子源相比提供了优越的空间分辨率，使显微镜能够实现亚纳米成像能力。FEG还提供增强的稳定性和长期性能,使其非常适合要求一致高质量结果的苛刻成像任务。PHILIPS Quanta 200 FEG具有多功能的电子光学设备,可让用户调整光束电流、加速度电压和光斑尺寸,以优化不同类型样品的图像质量和对比度。显微镜可以在一定范围的加速度电压下工作，通常从几百伏到几十千伏，这取决于实验的要求。这种灵活性使得能够成像各种材料，从生物样品到半导体器件，具有不同的导电特性。Quanta 200 FEG的一个关键特征是其收集样品表面发射的二次电子（SE）和反向散射电子（BSE）的先进检测系统。显微镜配备了高灵敏度探测器，能够高效率地捕获低能电子，允许在获得的图像中增强对比度和地形信息。SE检测器常用于表面形态学分析，而BSE检测器则是组成成像和材料对比研究的理想选择。除了高分辨率成像之外,PHILIPS/FEI Quanta 200 FEG还提供了一系列分析能力,用于对纳米级样品进行表征。显微镜可配备各种探测器和附件，用于进行能量色散X射线光谱（EDS）、电子反向散射衍射（EBSD）和阴极发光（CL）分析等。这些分析技术提供了有关样品的有价值的组成、晶体学和光学信息，增强了对样品特性和行为的整体理解。FEI Quanta 200 FEG采用用户友好的软件界面和直观的控制设计,以实现高效的操作和数据采集。显微镜软件允许方便的导航、成像参数调整和图像处理，使研究人员和工程师能够快速获得高质量的结果。该单元还支持批量成像和分析任务的自动化和脚本编写,提高了复杂实验的生产率和可重复性。总之，飞利浦Quanta 200 FEG扫描电子显微镜是高分辨率成像和纳米级样品高级分析的有力工具。凭借其FEG电子源、多功能光学机器、先进的探测器和分析能力，该仪器为研究人员和行业专业人士提供了一个平台，以深入描述和了解各种材料和结构。Quanta 200 FEG擅长提供卓越的性能、灵活性和易用性,使其成为各种科学学科和工业应用领域的宝贵资产。
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