二手 PHILIPS / FEI Quanta 200 #9148989 待售

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ID: 9148989
3D Scanning Electron Microscope (SEM) With Focused Ion Beam (FIB) Secondary electron detector Backscattered electron detector Charged-coupled device Electron dispersive system Gaseous backscattered detector EBSD Orientation mapping system EDAX Detecting unit EDX Digital controller: 240V Resolution: High-vacuum: 3.0nm at 30kV 4.0nm at 30kV 10nm at 3kV Low-vacuum: 3.0nm at 30kV 4.0nm at 30kV < 12nm at 3kV Extended vacuum mode: 3.0nm at 30kV Accelerating voltage: 200V – 30kV Probe current: up to 2μA – continuously adjustable.
PHILIPS/FEI Quanta 200是一种高分辨率扫描电子显微镜(SEM)。它是一种高端仪器,具有丰富的特性和功能,旨在为许多科学领域的研发提供最高质量的成果。FEI Quanta 200是一种阴极发光(CL)和二次电子(SE)成像系统,能够观察和分析纳米尺度内多种材料的详细结构和物理性质。其先进的设计也允许它提供广泛的功能,包括电子光谱和能量过滤成像,即使在低加速电压范围。飞利浦Quanta 200具有独特的野战发射枪(FEG)和环境特性组合。FEG和双离子源与SE探测器相结合,使显微镜能够在0.1V至30kV的工作电压范围内运行,30kV时分辨率高达2.5nm,从而能够广泛应用,如纳米光刻、故障分析和材料研究。Quanta 200的环境特点包括工作室气闸和环境安全壳级手套箱。气闸可以连接到真空泵,让用户在真空中工作,通量高,而环境手套箱则确保无污染环境。再者,PHILIPS/FEI Quanta 200配备了提供10-10至10-7 Pa工作压力范围的全集成差速泵系统,允许各种真空应用。在分析方面,FEI Quanta 200标配内置光谱仪和能量过滤成像,使用户能够分析材料特性如成分、深度剖面、元素分布、残余应力、表面缺陷和纳米技术相关技术等新兴技术。总而言之,PHILIPS Quanta 200是一款功能强大的仪器,为研究人员提供可靠的高分辨率成像和分析工具。其先进的特性和功能允许各种应用,其环境控制特性使其成为一种用途极为广泛的设备,能够处理各种纳米级材料并分析其物理特性。
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