二手 PHILIPS / FEI Quanta 250 #9195113 待售
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ID: 9195113
Scanning Electron Microscope (SEM)
BRUKER EDS System
Detector: XFlash detector 5010
Heating stage: 1000°C
CARTON 2050 Chiller
Missing HTSU 36kV high voltage power supply, P/N: 4022 268 00355
2010 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 250是一种扫描电子显微镜(SEM),主要设计用于纳米级特征的成像。这款先进仪器具有各种高性能组件,如野外发射枪(FEG)、液氮冷却电子探测器和超高分辨率成像系统。FEG产生聚焦的高分辨率电子束,用于成像尺寸从几毫米到几纳米不等的样品表面。电子束聚焦在一个广泛的放大范围,允许大规模的概述图像和纳米细节。该探测器是液氮冷却薄膜探测器,能够检测二次电子、反向散射电子和特征X射线。此外,FEI Quanta 250还具有超高分辨率成像系统,可产生分辨率约为0.1 nm的图像。除了成像表面之外,PHILIPS Quanta 250还能够对厚度高达200 µm的样品进行3D重建。这是通过获取不同入射角度的多个图像,然后将它们组合到3D数据集中来实现的。该仪器还可用于各种分析过程,包括真空中的样品分析、实时的表面分析和表征、快速元素映射、检测线缺陷、检查晶界以及区分多晶材料中的个别相。Quanta 250还具有多种用户激活的控件,如提供360°旋转和倾斜控制的样本级测角仪、蜂窝级自动对准系统、最大5 kV的偏压控制、半自动采样选择、多元素检测器、快速数据采集速度和3D重建软件。因此,PHILIPS/FEI Quanta 250旨在提供直观且高度精确的纳米级特性成像。
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