二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #293600869 待售

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ID: 293600869
优质的: 2009
Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) OMNIPROBE 200 for lift out (3) Gases: Pt, XeF2 and W CL Centaurus detector EDAX: EDS, WDS, EBSD Magnum ion column Hard Disk Drive (HDD) PC Non-functional 2009 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一种提供超高分辨率成像和分析的野外发射枪(FEG)扫描电子显微镜(SEM)。这个先进的成像系统提供了纳米分辨率的样品图片。它还提供了广泛的检查能力,如元素成分分析、表面地形映射和挥发性材料分析。FEI Quanta 3D FEG利用场发射枪(FEG)产生一束带有很小电子探针的光束。这种紧密聚焦的光束提供了被检查材料的原子级细节,使用户能够识别出尺寸相当大的材料缺陷和传统SEM系统无法看到的其他特征。PHILIPS QUANTA 3D FEG的光束控制系统确保了光束轮廓的稳定和更精确的成像结果。PHILIPS/FEI QUANTA 3 D FEG允许用户分析广泛的材料,从绝缘体到导体和半导体。这包括对纳米结构、沟槽、表面和各种薄膜材料的微观特征的高分辨率观测。此外,系统的电子束可以与样品相互作用,提供元素组成和晶体结构的信息。QUANTA 3 D FEG配备了众多的成像和分析功能,允许用户检测到广泛的材料特性。这包括但不限于电子反向散射衍射、能量色散X射线光谱、形状识别和定量、薄膜分析以及通过一系列定量测量软件增强的成像。总体而言,FEI QUANTA 3D FEG是一种功能强大的扫描电子显微镜,非常适合应用于材料科学、生命科学和纳米工程。这项尖端技术为各种高分辨率成像和元素组成分析提供了卓越的性能、稳定性和灵活性。
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