二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9237481 待售

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PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG
已售出
ID: 9237481
Focused Ion Beam (FIB) system SEM+ Ion column Omni probe system: Manual type GIS, PT.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一种先进的扫描电子显微镜(SEM),允许使用多种分析技术对材料进行前所未有的3D成像。它对于高分辨率图像和元素图的采集具有0.7 nm的优异分辨率。FEI Quanta 3D FEG能够检测具有挑战性的环境(如分辨率测试结果和样品厚度等)中的纳米级特征、变形和分子结构,使其非常适合半导体光刻、电路板分析、金相研究和故障分析等应用。它也可用于评估表面粗糙度、污染程度和腐蚀状态。PHILIPS QUANTA 3D FEG利用野战发射枪(FEG)也称为冷阴极发射枪。这项先进的技术使显微镜能够在低压和高压成像上提供更好的性能。这是由于FEG能够在广泛的工作电压范围内保持非常稳定和一致的主光束电流,从而提高图像质量和稳定性。此外,该枪有一个精细聚焦的光束,便于分析小特征以及检测大面积的缺陷。显微镜配备了多种高级功能,以确保最大性能,并提供完整的工作流程。这些特点包括全自动的样品交换系统、高速扫描控制器、快速扫描系统和自动化的低压反向散射检测器。它还有一个自动化的样品温度和气体环境控制系统,即使是最具挑战性的样品也可以进行最佳分析。Quanta 3D FEG还提供了出色的图像对比度和信噪比,可以从一系列样本表面检索到有价值的信息。显微镜的灵活性也为用户提供了调节工作电压以获取广泛信号的能力。这款多功能工具提供出色的分辨率和出色的成像功能,使其成为任何显微镜应用程序的理想选择。从故障分析和半导体生产到高分辨率成像和3D成像,PHILIPS/FEI QUANTA 3D FEG提供可靠的结果,简便准确。
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