二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9266789 待售

ID: 9266789
Dual beam SEM Ion beam resolution: 7 nm at 30 kV (Beam coincident point) Electron beam resolutions: High vacuum 0.8 nm at 30 kV (STEM) 1.2 nm at 30 kV (SE) 2.5 nm at 30 kV (BSE) 2.9 nm at 1 kV (SE) Low vacuum: 1.5 nm at 30 kV (SE) 2.5 nm at 30 kV (BSE) 2.9 nm at 3 kV (SE) Extended low vacuum mode (ESEM) 1.5 nm at 30 kV (SE) Chamber vacuum: High vacuum: < 6e-4 Pa Low vacuum: 10 to 130 Pa ESEM Vacuum: 10 to 4000 Pa Pump down time (high-vacuum): < 3 Minutes Power supply: Accelerating voltage: 200 V - 30 kV Probe current: up to 200 nA.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一种场发射扫描电子显微镜(FE-SEM),能够对所有领域的材料进行超高分辨率成像。这台多功能仪器结合了FEI先进的野外发射枪(FEG)技术和飞利浦强大的扫描电子设备,为纳米级成像和分析提供了强大的成像平台。FEI Quanta 3D FEG是一款紧凑的设备,具有高分辨率成像,分辨率高达1纳米。该系统具有高达50毫米的宽视野,能够通过一次扫描非常详细地捕获样本的大面积区域。该仪器的设计是为了方便地获取即使是最复杂的三维结构的图像。该仪器具有一个自动化的标本级,可以在x、y和z轴上移动到150毫米,这有助于促进大视场成像。该装置还配备了先进的电子柱控制装置,便于自动优化各种不同材料的最佳成像条件。这使得常规用户可以轻松获得高质量的结果。Quanta 3D还配备了通用的自动化标本处理机。这项先进技术可以改变不同类型成像的样品放置,如低压二次电子、强透镜内二次电子、反向散射电子成像。Quanta 3D还可以执行高级元素分析(EDX和EBSD)和离子束分析(IBM和ISS)来获取组成信息和亚微米细节。除了其众多功能外,Quanta 3D还包括各种能够实现高级数据分析和操作的软件包。该软件使用户能够访问3D重建、曲面分析和数字图像处理。这些功能使Quanta 3D成为一种理想的仪器,可用于对各种材料进行成像和表征。
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