二手 PHILIPS / FEI Quanta 3D FEG #9272543 待售

看起来这件物品已经卖了。检查下面的类似产品或与我们联系,我们经验丰富的团队将为您找到它。

ID: 9272543
Focused Ion Beam (FIB) system (4) Gases: XeF2 (Glass etch), Platinum, Iodine (Metal etch), Idep2 (Glass deposition) ETD Detector Does not include backscatter detector.
PHILIPS/FEI Quanta 3D FEG是一款高性能扫描电子显微镜(SEM),以野外发射枪(FEG)为特色,提供极致图像质量和分辨率。该解决方桉结合了高级成像和分析功能,可帮助解锁来自微米级3D结构和材料的宝贵见解。凭借其先进的用户界面,FEI Quanta 3D FEG使用户能够快速轻松地在各种科学和工业学科的广泛应用程序中设置和拍摄令人惊叹的3D图像。PHILIPS QUANTA 3D FEG被设计用于一系列应用,如材料分析、薄膜表征和地形测量。它能够实现低kV成像的扩展工作距离和高kV成像的精细结构和特征的详细分辨率。其集成的最先进的电子束技术提供了对三维结构进行快速准确测量的能力。FEG是QUANTA 3D FEG最重要的特性。FEG是一种电子源,利用电场从冷金属尖端发射高能电子,由可插入的弹药筒固定到位。与传统电子源使用加热的灯丝产生电子不同,FEG允许更高分辨率的图像。这是低能电子从其冷金属尖端发出的结果。PHILIPS/FEI QUANTA 3D FEG还具有集成警报和自动气体交换系统。该系统可确保真空稳定,在高、低真空SEM模式下均可达到最佳性能。Quanta 3D FEG构建在一个开放的平台上,这使得它易于配置以满足广泛应用的需求。该平台还拥有独特的模块化设计,更易于自信地探索新的应用程序。FEI QUANTA 3 D FEG还提供了广泛的自动化功能。其中包括自动图像优化工具、自动图像质量控制和自动漂移校正。此外,SEM还提供了一整套互补的分析附件,这些附件便于进行多种表征技术,包括能量色散X射线分析(EDXA)和电子反向散射衍射(EBSD)。PHILIPS Quanta 3D FEG是一款先进的成像和分析工具,能够为广泛领域和行业的研究和发现做出宝贵贡献。它是一个直观的用户界面和一系列功能强大的功能使其成为那些希望解开纳米结构和材料秘密的人的理想解决方桉。
还没有评论