二手 PHILIPS / FEI Quanta 400 #293829906 待售
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ID: 293829906
Scanning Electron Microscope (SEM)
Included:
OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Sight detector
OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Stream and INCA mics controllers / Electronics
Centaurus detector component
PFEIFFER Vacuum compact cold cathode gauge.
PHILIPS/FEI Quanta 400是为高分辨率成像应用而建造的先进扫描电子显微镜（SEM）。它利用了多种成像和分析技术，包括反向散射电子（BSE）成像、X射线微分析、3D地形测定、粒径和形态定量以及电压对比度。这种能力的组合为研究人员提供了一个强大的工具，用于在微观尺度上表征样品的化学、结构和电气特性。FEI Quanta 400的基础平台由高真空室真空设备、样品级、电子光柱、样本操纵系统、数字检测器和计算机控制单元组成。电子光学柱装有一个聚焦电子枪，设计用来产生一束具有可变光斑大小和能量的电子束，这些电子束可以快速聚焦并扫描整个样品表面。带电粒子与样品表面相互作用，导致电子被发射或吸收，提供有关样品组成和地形的信息。PHILIPS Quanta 400上的样品级是一个5轴设计，为样品的精确对准和定位而设计。利用舞台，除了三维地形和双光束成像之外，还可以获得高放大倍率和广域图像。它能够相对于电子流倾斜样品，从而实现高度精确的成像控制。安装在Quanta 400上的数字探测器是为快速成像和分析而优化的高分辨率、低暗电流探测器。它能够接受最多两个探测器的电子信号，允许并行成像和多通道分析。硬件还允许高级图像处理功能,包括多尺度图像增强、反卷积和阈值。计算机控制机器可以实现自动化、精确的样本控制。软件界面简化了用户与仪器的交互，使调整参数的过程更加轻松高效。此外,还可以将控制工具配置为执行自动断层扫描、粒径调整和高放大成像等任务。PHILIPS/FEI Quanta 400为用户提供了功能强大的多模式SEM平台,能够提供多种成像和分析技术。FEI Quanta 400以其先进的电磁体、精确的取样操作、数位成像相结合，在研究应用的最佳扫描电子显微镜中脱颖而出。
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