二手 PHILIPS / FEI Quanta 400 #9233931 待售

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ID: 9233931
优质的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM) With EDS Tungsten gun Includes: OXFORD INSTRUMENTS INCA X-Sight detector 6650 ATW2 INCA X-Stream & INCA Mics BSE Detector with different filter SE Detector Low vacuum SE Detector Stage accessories Operating system: Windows XP.
PHILIPS/FEI Quanta 400是一种扫描电子显微镜(SEM),利用电子束诱导的二次电子成像获得样品的高度详细、高度放大的图像。它能够放大到400,000倍,使用户可以看到小到1nm的功能。在搭配选装的Everhart-Thornley设备时,FEI Quanta 400也可以作为扫描透射电子显微镜(STEM)操作。PHILIPS Quanta 400具有透镜全场数字成像系统,使显微镜能够产生样品表面的高分辨率图像。它有两个独立的倾斜阶段,一个用于水平旋转,一个用于垂直旋转。这使操作员能够精确调整样品的倾斜度,这对于获取高质量的图像是必不可少的。除了透视数字成像单元外,Quanta 400包含阴极发光(CL)成像机。此工具允许可视化标准SEM无法看到的示例特征。CL成像对于获取矿物学特征图像和研究材料的光学性质特别有用。PHILIPS/FEI Quanta 400由高性能场发射枪(FEG)电子源供电,产生高能电子束,然后聚焦在样品表面。光束电流和光束直径可以为每个样品定制,在操作显微镜时允许最大的灵活性。FEI Quanta 400用途显着,可用于多种研究应用。它通常被工业和学术研究者用于故障分析、芯片故障分析、能量色散X射线光谱(EDS)、生物标本成像和纳米尺度表征。PHILIPS Quanta 400是一种极好的扫描电子显微镜,为研究人员提供高分辨率的图像和对电子束的精确控制。它的CL成像资产和FEG电子源使它能够产生独特的、信息丰富的标本图像到纳米级。
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