二手 PHILIPS / FEI Quanta 450 #9200223 待售
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ID: 9200223
优质的: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM)
Nano characterization:
Metals and alloys
Oxidation / Corrosion
Fractures
Welds
Polished
Sections
Magnetic
Superconducting materials
Ceramics
Composites
Plastics
Film / Coatings
Geological sections
Minerals
Nanoprocesses:
Hydration / Dehydration
Wetting behaviour / Contact angle analysis
Oxidation / Corrosion
Tensile (Heat / Cooling)
Crystallization / Phase transformation
Soft materials:
Polymers
Pharmaceuticals
Filters
Gels
Tissues
Plant material
Particles
Porous materials
Fibers
Nano prototyping:
Lithography
EBID
Essential specifications:
Electron optics:
High performance thermal emission SEM
Fixed objective aperture
Objective lens geometry: 45°C
Maximum horizontal field width: 6.5 mm
Distance (10 mm): 24.3 mm (65 mm)
Accelerating voltage: 200 V - 30 kV
Probe current: Up to 2 µA
Magnification: 6 -1000000 x
Electron beam resolution:
High vacuum:
3.0 nm - 30 kV (SE)
4.0 nm - 30 kV (BSE)
8.0 nm - 3 kV (SE)
Extended vacuum mode (ESEM):
3.0nm - 30 kV (SE)
Detectors:
Everhart thornley SED (secondary electron detector)
Large field low vacuum SED (LFD)
High sensitivity low kV (SS-BSED)
Gaseous SED (GSED) (used in ESEM mode)
4-Quadrant solid-state (BSED)
Scintillator (BSED / CLD)
IR Camera for viewing sample in chamber
Vacuum system: 1 x 250 l/s TMP (Turbomolecular pump)
Beam gas path length: 10 mm / 2 mm
Chamber vacuum:
High: < 6e - 4 Pa
Low: < 10 - 130 Pa
ESEM: < 10 - 2600 Pa
Evacuation time:
High vacuum: ≤ 150 s
ESEM (FEI Standard test procedures): ≤ 270 s
Chamber:
Size: Left to right 284 mm
Analytical WD: 10 mm
(8) Ports
EDS take-off angle: 35°C
Stage:
X-Y: 100 mm
Z: 60 mm
Z clearance: 75 mm
T: - 5° - 70°
R: 360°
Repeatability: 2 µm (x - y)
Sample holders:
Multi-stub
Single stub mount
Various wafer and custom
Universal sample
System control:
32-Bit graphical user interface: Windows XP
Keyboard and optical mouse
LCD Display, 19"
SVGA 1280 x 1024
Joystick
Manual user
Image processor:
4096 x 3536 Pixels (~14 MP)
File type:
TIFF (8 / 16 bit)
BMP / JPEG
System options:
Manual user interface
Support PC (Monitor, 19")
2012 vintage.
PHILIPS/FEI Quanta 450是为高灵敏度成像和分析应用而设计的扫描电子显微镜（SEM）。其高分辨率图像使得它非常适合检测纳米尺寸样品中的微结构。显微镜包括单色高压电子枪，全套可变电压成像和二次电子（SE）探测器，强大的检测软件，数字图像处理能力。FEI Quanta 450是一款功能强大的高性能SEM，适用于半导体故障分析、材料结构分析和无损材料检测等广泛应用。该系统的分辨率可达1.1海里，可对纳米级结构进行高精度成像。显微镜内装有蔡司ECU-D1单色电子枪。这种场发射电子源具有1 nm的光斑大小、高稳定性和重复性以及低热发射率。该源安装在X-Y手动运动机构上，使其能够精确放置在样品上方，从而产生低漂移和高精度。飞利浦Quanta 450包括全套SE探测器，包括二次电子探测器（SED）和反向散射电子探测器（BSD）。探测器安装在Y-Z手动运动机构上,使其能够精确定位在样品周围。这样可以精确识别体积小的结构元素。随显微镜安装的软件使操作变得容易。它包括二维成像、三维（3D）重建、样品定位和能量色散X射线光谱（EDS）。软件的映像部分灵活且用户友好,允许进行各种映像设置和增强。显微镜的数字图像处理能力稳健，为用户提供了先进的图像分割、定量图像分析、直方图分析等一系列特征。此成像对于故障分析中的复杂应用至关重要。总体而言，Quanta 450是一种先进的扫描电子显微镜，设计用于高分辨率成像和分析纳米级结构。单色电子枪具有1 nm的光斑尺寸、全套SE探测器、软件和数字图像处理系统，使其成为检测半导体、材料和器件样品中微观结构的理想选择。
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