二手 PHILIPS / FEI Sirion 200 #293814372 待售
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ID: 293814372
优质的: 2003
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
Resolution: 1.5 nm at 10 kV or higher, 2.5 nm at 1 kV
Voltage: 500 V to 30 kV
Magnification: 30x to 600,000x
Detectors:
Secondary Electron (SE) detector
Backscattered Electron (BSE) detector
In-lens detector
Stage:
X-Y stage travel: 50 mm x 50 mm
Stage rotation: 360 degrees
Stage tilt: -15 to +75 degrees
Compucentric rotation
Working distance: 1 mm to 60 mm
(5) Axis motorized stage
Computer control
2003 vintage.
PHILIPS/FEI Sirion 200扫描电子显微镜（SEM）是一种高性能显微镜，提供多种成像能力和分析能力。它是Sirion系列电子显微镜的最新版本，具有独特的模块化设计，允许用户根据实验室的具体成像和分析需求定制显微镜。FEI Sirion 200以扫描电子和传输电子两种主要模式运行。在扫描电子模式下，图像是通过在样品表面上扫描高能电子束而形成的。电子与标本中的内在结构相互作用，回馈被放大并转换成图像的信号。图像可以在10 x到250,000 x之间的放大倍数获取，并以高达两纳米的分辨率显示。在透射电子模式下，光束通过样品，使非常精细的结构细节可视化。光束聚焦到一个很小的区域，并在显微镜阶段通过一个薄标本传输。透射的电子由于样品材料的厚度不同而形成对比图，可以以高达一纳米的分辨率来解析。飞利浦Sirion 200还提供多种分析能力，如能量色散光谱（EDS），可用于化学分析标本；电子反向散射衍射（EBSD），可用于分析材料的晶体学结构；和元素映射，可以用来映射标本上元素的分布。Sirion 200配备了许多增强功能，如数字线扫描，允许以多角度获取图像以改进3 D成像；背景噪声降低的高灵敏度探测器；以及最先进的用户界面，易于使用，使用户能够快速高效地导航显微镜。PHILIPS/FEI Sirion 200 SEM是任何需要具有先进图像分析和微结构分析能力的强大扫描和透射电子显微镜的实验室的完美仪器。
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