二手 PHILIPS / FEI Sirion 400 #293830599 待售
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ID: 293830599
晶圆大小: 4"
Scanning Electron Microscope (SEM), 4"
E-Beam lithography
Resolution: 2 nm
Tilt: 60°
NPGS System.
PHILIPS/FEI Sirion 400是一款高分辨率扫描电子显微镜(SEM),能够产生目前市场上可用的最高分辨率图像。FEI Sirion 400配备了肖特基场发射枪(FEG)电子源,为出色的图像对比度提供了卓越的动力。该系统能够产生小至2纳米的细节。这意味着科学家和研究人员可以观察和研究现有的最小细节。飞利浦Sirion 400的精确度也令人难以置信,可以让用户准确测量肉眼看不到的粒子和表面。利用其可变的工作距离,可以看到0.1纳米到20厘米的样本量。Sirion 400的电子探测器灵敏度很高,是生物标本分析等精细研究项目的理想选择。使用可集成到系统中的双光束检测器(DMD),用户可以同时收集样品的低分辨率和高分辨率图像。PHILIPS/FEI Sirion 400的大腔室设计用来容纳岩石、土壤、沉积物和纤维等更大的样品。它的快速扫描速度与自动对焦镜头相结合,可以实现高速成像,并且通过其车载软件用户可以快速准确地确定扫描材料的确切位置。现在可以安装多样更换器,以减少设置和操作时间。用户可以在常规视图或专门的360度视图中查看示例,以进行更精确的分析。先进的激光对准系统确保每次扫描都与前一次完全匹配,从而最大限度地减少了将图像缝合在一起时的任何误差。FEI Sirion 400是一种强大而精确的扫描电子显微镜,非常适合研究人员和科学家寻找查看和分析最微小的物体。凭借其高分辨率相机、多探测器能力以及先进的扫描速度,这一仪器将使研究人员能够捕捉到他们样品材料的详细图像和测量结果。
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