二手 PHILIPS / FEI Tecnai 20 S-Twin #293812127 待售

PHILIPS/FEI Tecnai 20 S-Twin是一种扫描电子显微镜（SEM），具有提供亚纳米级和宏观级成像能力的独特能力。该显微镜配备了镜头内热重力物镜和高分辨率环境扫描电子探测器。透镜内热重力物镜在近中视场提供了很好的分辨率，而环境扫描电子探测器则能够观察纳米结构和表面形态。这项尖端技术使用户能够观察到生物和无机主题中的大量形态特征。SEM提供了一系列的样品探测能力，包括明暗场成像、可变压力模式、阴极发光和反向散射电子探测器。它还具有自动双倾斜访问功能,允许用户动态纠正视图平面中的错误对齐。这一先进特征在成像弯曲或不规则材料时特别有用。FEI Tecnai 20 S-Twin兼容双面卡盘和最新的样品持有者，如基材和假人。这种灵活性使您能够使用不同的样本类型执行各种检查技术。飞利浦Tecnai 20 S-Twin还具有强大的软件功能，如图像分析和自动模式识别。其先进的图像处理工具以及存储和跟踪图像数据的能力使您能够快速地处理和分析图像信息。它的软件还擅长配置显微镜的参数，让你最大限度地提高它的成像能力。Tecnai 20 S-Twin是需要高分辨率图像和一系列分析工具的微观研究的理想工具。其优越的性能和柔韧性使其适用于包括表面计量、纳米制造和半导体缺陷分析在内的多种应用。这种最先进的显微镜能够为用户提供他们所需的高质量成像能力，以快速准确地取得可靠的结果。